Rasterkraftmikroskop

Das AFM des NanOLabors am AGO

Das hier stehende Rasterkraftmikroskop (AFM (Atomic Force Microscope)) ist von den Schülern des Seminarfachs NanoScience, in Kooperation mit Studierenden des Instituts für Physik der Carl von Ossietzky-Universität Oldenburg, selbst gebaut worden. Nach 2 Jahren Bauphase, konnte es im März 2014 in Betrieb genommen werden.

Das Mikroskop selbst befindet sich dabei auf einem schwingungsdämpfenden Tisch in einer schallisolierenden Box, da die Messungen sehr empfindlich gegenüber jegliche Schwingung sind. In der Box befindet sich einmal ein sogenanntes Piezo-Element, dessen Herzstück ein Kristall ist, der sich bei angelegter Spannung  im Nanometer-Bereich in x-y-z Richtung bewegt. Auf diesem wird dann durch einen Magneten die Probe befestigt.  Dem gegenüber liegt eine nur 1  µm große Siliziumspitze, die auf einer kleinen Stimmgabel befestigt ist.

Bei einer Messung wird nun die Spitze der Probe erst manuell, dann über das Piezo- Element angenähert. Bei genügend geringen Abstand kann man jetzt unter anderem mit Hilfe eines Frequenzgenarators die Probe mit der Spitze in einem festgelegtem Raster abtasten  lassen, wobei es möglichst still sein sollte. Die dabei gewonnenen Daten, können von einer Software in 2- und 3D visualisiert werden.